Вестник НовГУ

Вестник НовГУ > 2004 > № 28 > Белехов Я.С., Петров М.Н. Выявление дополнительных особенностей рентгенотопографического контраста от дефектов с помощью вейвлет-анализа

Белехов Я.С., Петров М.Н. Выявление дополнительных особенностей рентгенотопографического контраста от дефектов с помощью вейвлет-анализа

УДК 539.2 548.4 548.73 620.187
Б е л е х о в Я. С., П е т р о в М. Н. Выявление дополнительных особенностей рентгенотопографического контраста от дефектов с помощью вейвлет-анализа // Вестн. Новг. гос. ун-та. Сер.: Техн. науки. 2004. №28, стр. 119-125
Рассматривается применение компьютерной обработки для анализа и расшифровки топографических изображений дефектов в монокристаллах 6H-SiC, выявленных по методу АПРЛ. На примере обработки экспериментального контраста краевых дислокаций показана возможность уменьшения влияния зернистости фотоэмульсии и улучшения качества изображений дефектов.
Библиогр. 5 назв. Ил. 4.

Загрузить (1362 КБ)